腦癱ddst指的是腦癱的丹佛發(fā)展篩選測(cè)驗(yàn)，可以用于智力篩選。

丹佛發(fā)展篩選測(cè)驗(yàn)是腦癱的體格檢查方法之一，主要目的是篩查智商落后者，了解兒童的智力發(fā)育水平，為診斷腦癱提供依據(jù)。該檢查方法包含104個(gè)項(xiàng)目，主要有4個(gè)能區(qū)，包括語(yǔ)言能區(qū)、大運(yùn)動(dòng)能區(qū)、精細(xì)動(dòng)作、個(gè)人—社交能區(qū)，一般用通過(guò)、失敗、拒絕表示每個(gè)項(xiàng)目的測(cè)試結(jié)果，醫(yī)生可以根據(jù)檢測(cè)結(jié)果篩選出可疑或異常的兒童，使用其他的量表做進(jìn)一步的測(cè)試。