新生兒腦發(fā)育不良的診斷方法是什么?由于嬰幼兒期的精神和身體發(fā)育速度存在著個(gè)體差異，故除參考正常兒童發(fā)育標(biāo)準(zhǔn)外，還需結(jié)合詳細(xì)的養(yǎng)育史和家庭環(huán)境，社會(huì)環(huán)境等因素，進(jìn)行綜合判斷。那么，新生兒腦發(fā)育不良的診斷方法是什么?以下就是我們的小編針對(duì)腦發(fā)育不良的診斷方法給大家進(jìn)行詳細(xì)介紹。
新生兒腦發(fā)育不良的診斷方法是什么?
1、CT、MRI掃描：根據(jù)病變處密度增高這一現(xiàn)象，CT、MRI掃描可掃描出各層次具體的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和腦組織的不同圖像，進(jìn)而進(jìn)行診斷有無腦發(fā)育不全。
2、X射線頭顱平片：為腦發(fā)育不全的診斷提供顱壓增高及定位的證據(jù)。
3、超聲波診斷：中線波向健側(cè)移位。通過觀察B超斷層現(xiàn)象判斷占位病變位置的大小，這也是腦發(fā)育不全的先進(jìn)診斷方法。
4、放射性同位素腦掃描，可見同位素濃集現(xiàn)象。
5、檢查有無淺表淋巴結(jié)腫大，并結(jié)合病史，進(jìn)行具體神經(jīng)系統(tǒng)診斷。
以上就是關(guān)于腦發(fā)育不良的診斷方法給大家的詳細(xì)介紹了，相信大家對(duì)此已經(jīng)有所了解了，希望能夠給您帶來幫助。