H/E是圍產(chǎn)期新生兒因缺氧引起的腦部病變，主要由宮內(nèi)窘迫、新生兒窒息缺氧引起，少數(shù)可發(fā)生在其他原因引起的腦損害。多發(fā)生在窒息人足月兒，但也可發(fā)生在早產(chǎn)兒。
引起新生兒缺氧缺血性腦病的原因很多，其中從妊娠到出生28天是本癥的主要階段，病因主要有以下：
1、母親因素：妊高癥、大出血、心肺疾病、嚴(yán)重貧血或休克等。
2、胎盤異常：胎盤早剝、前置胎盤、胎盤功能不良或結(jié)構(gòu)異常等。
3、胎兒因素：宮內(nèi)發(fā)育遲緩、早產(chǎn)、過期產(chǎn)等。
4、臍帶血液阻斷：如臍帶脫垂、壓迫、打結(jié)或繞頸等。
5、分娩過程因素：如滯產(chǎn)、急產(chǎn)、胎位異常，手術(shù) 或應(yīng)用麻醉藥等。
6、新生兒疾?。喝绶磸?fù)呼吸暫停、RDS、心動(dòng)過緩、嚴(yán)重心力衰竭、休克及紅細(xì)胞增多癥等。
后遺癥
新生兒缺氧缺血性腦病是否有后遺癥，要看缺氧缺血性腦病引起的腦損傷的范圍、程度，重者可出現(xiàn)腦癱、癲癇、智力障礙、行為異常等，輕者可無后遺癥。上述幾種異常可以單獨(dú)一種疾病表現(xiàn)，也可能幾種同時(shí)存在，如腦癱、癲癇、智力障礙、行為異常，或腦癱+癲癇，腦癱+癲癇+智力障礙，出現(xiàn)多重障礙，提示腦損傷范圍比較廣泛。由于新生兒早期臨床表現(xiàn)不典型，是否受影響，需要定期進(jìn)行監(jiān)測。