小兒腦性癱瘓的患病率在不同國家流行病學(xué)調(diào)查結(jié)果不盡相同，國際衛(wèi)生組織報道1‰～ 5‰，我國六省(區(qū))流行病學(xué)調(diào)查腦癱患病率為1.2‰～2.7‰。我國現(xiàn)有腦癱患兒4OO～500萬，致殘率為42%～45% ，每年新增腦癱患兒34萬，已成為新的臨床、公共衛(wèi)生和社會問題。因此，研究小兒腦癱病因，及早取干預(yù)措施，及早診斷、康復(fù)、治療，對于降低患病率、減少致殘率、提高我國人口素質(zhì)具有重要意義。

　　導(dǎo)致小兒腦性癱瘓的原因具體如下：

　　1、產(chǎn)時因素：主要是早產(chǎn)(由圍產(chǎn)期窒息造成的腦癱占8% ～10%)、難產(chǎn)(難產(chǎn)可造成腦損傷和缺氧后果)

　　(1)早產(chǎn)和低出生體重： 大量流行病學(xué)調(diào)查顯示，早產(chǎn)和低出生體重是腦癱發(fā)生的高危因素。隨著圍產(chǎn)醫(yī)學(xué)發(fā)展，孕產(chǎn)婦保健意識提高，早產(chǎn)和低出生體重成活率提高，但腦癱的發(fā)生率也明顯增高，這可能與胎兒腦組織發(fā)育不成熟，易受各種因素作用，使腦組織進一步受損傷有關(guān)。

　　(2)窒息：由于羊水堵塞、胎糞吸入、臍帶繞頸所致的嚴重窒息是腦癱的重要原因，窒息后常使腦組織缺血、缺氧、腦細胞水腫、壞死。研究表明，正常體重出生的新生兒5min Apgar評分小于3時，腦癱發(fā)生率為5%;10 min Apgar評分小于3時，腦癱發(fā)生率為17%;而20min Apgar評分小于3時，高達57%。

　　多數(shù)學(xué)者認為。只有較長時間(≥10分鐘)Apgar評分低或伴新生兒腦病和驚厥，才是腦癱的高危因素。Psehirrer的研究表明，由圍產(chǎn)期窒息造成的腦癱占8%～10%，其機制可能為：缺血、缺氧后線粒體ATP能量產(chǎn)生不足， 泵活性減低，調(diào)節(jié)細胞內(nèi)外Ca2 濃度平衡的轉(zhuǎn)動機制失控，使細胞內(nèi)ca2 濃度急劇上升，導(dǎo)致神經(jīng)元的死亡。

　　2、產(chǎn)后因素：可能導(dǎo)致腦癱的新生兒并發(fā)癥包括：高膽紅素血癥、失血、感染等原因引起的新生兒休克，顱腦損傷及癲癇抽搐等。

　　可能導(dǎo)致腦癱的新生兒并發(fā)癥：(1)心血管及呼吸功能障礙可致新生兒腦缺血、缺氧，如動脈導(dǎo)管未閉、低血壓、氣胸、支氣管肺發(fā)育不良、呼吸窘迫綜合征等;(2)高膽紅素血癥，如新生兒溶血癥造成核黃疽，腦細胞線粒體氧化磷酸化的解偶聯(lián)作用發(fā)生障礙，腦細胞能量產(chǎn)生不足而變性壞死;(3)失血、感染等原因引起的新生兒休克;4.顱腦損傷及癲癇抽搐，影響腦組織供血、供氧。

　　3、遺傳因素：遺傳因素在腦癱的發(fā)生中越來越引起重視，一些腦癱患兒可有家族遺傳病史，在同輩或上輩的母系及父系家族中有腦癱、智力障礙或先天畸形等，近親結(jié)婚出生的幼兒中腦癱發(fā)生率增高。其中早產(chǎn)、低出生體重是目前公認的最主要的腦癱致病因素，且孕期越小，出生體重越低，腦癱患病率越高。遺傳是腦癱發(fā)生的一個重要因素。